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日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測試系統 ● nanoSAQLA是一臺通過動態光散亂法(DLS法)測量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學系統,實現了實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。 另外,這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續測量”的新產品。
更新時間:2025-04-09
產品型號:ZETA ELSZneo
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日本大塚otsuka SMART光學膜厚計測厚儀與桌上型光學膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現場”以非破壞式直接量測樣品,且可以量測特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品,也不會因為用戶不同而產生誤差且遠高于接觸式膜厚計的量測精度。
更新時間:2025-04-09
產品型號:
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